泰思(si)肯(ken)MAGNA新(xin)壹代(dai)超高(gao)分(fen)辨(bian)場發(fa)射掃(sao)描電鏡(jing)

產品簡(jian)介(jie)：

TESCAN MAGNA是(shi)壹款(kuan)功能(neng)極(ji)其強(qiang)大的(de)分(fen)析儀(yi)器，適用(yong)於納(na)米(mi)材料的(de)形(xing)貌(mao)表征(zheng)以(yi)及微(wei)觀分(fen)析。MAGNA配(pei)置 Triglav™ 型(xing) SEM 鏡(jing)筒，具有超(chao)高(gao)的(de)分(fen)辨(bian)率，在低(di)電壓(ya)下尤為明顯(xian)；鏡(jing)筒內(nei)探測(ce)器系統具有電子信(xin)號(hao)過(guo)濾能(neng)力(li)，可(ke)以(yi)獲(huo)得更(geng)好(hao)的(de)圖像(xiang)襯(chen)度和(he)表面(mian)靈敏度，非常(chang)適用於不導(dao)電樣品的(de)成(cheng)像(xiang)，如(ru)陶瓷、無(wu)塗層生(sheng)物(wu)樣(yang)品(pin)，以(yi)及在半(ban)導體(ti)光敏(min)樣(yang)品等(deng)。

產品特(te)點(dian)

• *的(de)實(shi)時電子束(shu)追(zhui)蹤技術(shu)(In-flight Beam Tracing™)功能(neng)，可(ke)設置優(you)化(hua)束斑(ban)尺(chi)寸(cun)和(he)束(shu)流(liu)強(qiang)度。
• *的(de)TriBE^TM和(he)TriSE^TM In-Beam探測(ce)器系統，實(shi)現(xian)更*進(jin)的(de)納(na)米(mi)尺(chi)度表征(zheng)。
• TESCAN Essence™便利的(de)電鏡(jing)操(cao)作軟件(jian)。
• 可以(yi)配置TESCAN自(zi)有或第(di)三(san)方的(de)多(duo)種(zhong)擴(kuo)展分(fen)析附(fu)件，如EDS、EBSD、CL、Raman聯用。