泰思(si)肯 新壹(yi)代(dai)超(chao)高分辨場發射(she)掃描電鏡(jing)

CLARA新壹(yi)代(dai)超(chao)高分辨場發射(she)掃描電鏡(jing)

產(chan)品簡介(jie)

   全(quan)新設(she)計(ji)的(de)CLARA超(chao)高分辨場發射(she)掃描電鏡(jing)可(ke)以(yi)提供(gong)的(de)圖(tu)像(xiang)質量(liang)，具(ju)有(you)強大的(de)擴展(zhan)分析(xi)能(neng)力(li)，能(neng)夠滿足(zu)現今工業研(yan)發和(he)科研(yan)的(de)所有(you)需求，不(bu)僅適用(yong)於(yu)的(de)納米分析(xi)應(ying)用(yong)，也給(gei)操(cao)作(zuo)者帶(dai)來(lai)舒(shu)適、高效的(de)使用體驗(yan)。

產(chan)品特(te)點

• 新壹(yi)代(dai)鏡筒(tong)內電子(zi)加(jia)速、減(jian)速技術，保(bao)證了復(fu)雜樣品的(de)低電壓(ya)高分辨觀測能(neng)力(li)。
• *配置(zhi)的(de)靜電-電磁(ci)復(fu)合物鏡(jing)，物(wu)鏡(jing)無磁場外泄(xie)，實現(xian)磁(ci)性樣品高分辨成像(xiang)及分析(xi)。
• 配置(zhi)4個(ge)新壹(yi)代(dai)探測器(qi)，可(ke)實現9種圖(tu)像(xiang)觀測，對(dui)樣(yang)品信(xin)息的(de)采(cai)集更(geng)加(jia)全(quan)面。
• 配置(zhi)大型樣品室(shi)，有(you)超(chao)過(guo)20個(ge)擴展(zhan)接(jie)口，為原(yuan)位(wei)觀測、分(fen)析(xi)創造(zao)了良好的(de)工作(zuo)環境。
• 可(ke)以配置(zhi)TESCAN自(zi)有(you)或第三(san)方(fang)的(de)多(duo)種擴展(zhan)分(fen)析(xi)附件(jian)，如EDS、EBSD、CL、Raman聯用(yong)。