泰(tai)思肯VEGA鎢(wu)燈絲(si)掃(sao)描電子顯微鏡，采用全(quan)新(xin)的 Essence™ 電鏡操控軟(ruan)件系(xi)統，將(jiang)掃(sao)描形(xing)貌(mao)圖(tu)像與元(yuan)素(su)實時(shi)分析集成於(yu)同(tong)壹個(ge)掃(sao)描窗口中。這(zhe)種(zhong)組(zu)合大(da)大簡(jian)化(hua)了(le)樣品表面形(xing)貌(mao)的采集及(ji)含元(yuan)素(su)的數據(ju)分析工(gong)作(zuo)，使(shi)得第四代 VEGA SEM 成為(wei)質(zhi)量(liang)控制(zhi)、故(gu)障(zhang)分析和研究(jiu)實驗(yan)室(shi)中(zhong)常(chang)規材料等檢(jian)測提(ti)供(gong)更(geng)高效(xiao)的分析的解決方(fang)案。《查(zha)看(kan)更(geng)多(duo)》

泰(tai)思肯MIRA通用分析型高分辨場(chang)發射(she)掃(sao)描電鏡 TESCAN MIRA 推(tui)出的第四代高性能掃(sao)描電子顯微鏡，配置(zhi)有高亮度肖(xiao)特基場發射(she)電子槍，在TESCAN 的 Essence™ 操作(zuo)軟(ruan)件(jian)的同壹個(ge)窗口中實(shi)現了(le) SEM 成像和實時(shi)元(yuan)素(su)分析。這(zhe)種(zhong)結(jie)合大(da)大簡(jian)化(hua)了(le)從樣品中獲(huo)取(qu)形(xing)貌(mao)和元(yuan)素(su)數據(ju)的過(guo)程，從而(er)使(shi)得MIRA 成為(wei)質(zhi)量(liang)控制(zhi)、失(shi)效(xiao)分析和實驗(yan)室(shi)常(chang)規(gui)材料檢測的有效(xiao)分析解決方(fang)案。《查(zha)看(kan)更(geng)多(duo)》

MAGNA新(xin)壹代超高分辨場(chang)發射(she)掃(sao)描電鏡《查看更(geng)多(duo)》

泰(tai)思肯 新(xin)壹代超高分辨場(chang)發射(she)掃(sao)描電鏡 全(quan)新(xin)設(she)計(ji)的CLARA超高分辨場(chang)發射(she)掃(sao)描電鏡可以提(ti)供(gong)的圖像質量(liang)，具(ju)有強大的擴展分析能力，能夠(gou)滿(man)足(zu)現今(jin)工業研發和科(ke)研的所有需求(qiu)，不僅(jin)適(shi)用於的納(na)米分析應(ying)用，也給操作(zuo)者帶來舒(shu)適(shi)、高效(xiao)的使(shi)用體驗(yan)。《查看(kan)更(geng)多(duo)》