泰(tai)思(si)肯(ken)VEGA鎢燈(deng)絲(si)掃描電子(zi)顯微(wei)鏡(jing)

   泰(tai)思(si)肯(ken)VEGA鎢燈(deng)絲(si)掃描電子(zi)顯微(wei)鏡(jing)，采用(yong)全(quan)新的 Essence™ 電(dian)鏡(jing)操控軟(ruan)件(jian)系(xi)統(tong)，將掃描形貌圖像與(yu)元(yuan)素(su)實時(shi)分析集(ji)成(cheng)於同(tong)壹(yi)個掃(sao)描窗口(kou)中。這(zhe)種組(zu)合大(da)大簡(jian)化(hua)了樣品表(biao)面形貌的采集(ji)及(ji)含元(yuan)素(su)的數(shu)據(ju)分析(xi)工作，使得全新的第(di)四(si)代 VEGA SEM 成為(wei)質(zhi)量(liang)控(kong)制(zhi)、故(gu)障(zhang)分析和(he)研(yan)究(jiu)實驗室(shi)中常(chang)規材(cai)料(liao)等檢測提供更高(gao)效(xiao)的分(fen)析(xi)的解決方(fang)案(an)。

突(tu)出(chu)特點(dian)

   *集(ji)成(cheng)的 TESCAN Essence™ EDS 分(fen)析(xi)平臺，在(zai) Essence™ 電(dian)鏡(jing)操控軟(ruan)件(jian)的單(dan)壹(yi)窗口(kou)中即可(ke)實現(xian) SEM 成像和(he)元(yuan)素(su)成(cheng)分分析。

   TESCAN 采用(yong)*的無(wu)機械(xie)光(guang)闌(lan)設計，采用(yong)實時(shi)電子(zi)束(shu)追(zhui)蹤（In Flight Beam Tracing™）的技術，可(ke)幫(bang)助用(yong)戶快速獲得電鏡(jing)的成(cheng)像及分析條(tiao)件(jian)。

   *的大(da)視野光(guang)路（Wide Field Optics™）設計，低至(zhi)2倍的放(fang)大倍數(shu)，無(wu)需(xu)額外(wai)的光(guang)學(xue)導航攝(she)像頭(tou)即(ji)可(ke)輕松(song)、實現(xian) SEM 導航。

   SingleVac™ 模(mo)式作為(wei)標(biao)準配置(zhi)，為(wei)觀測不(bu)導電樣品和(he)電(dian)子(zi)束(shu)敏感的樣(yang)品(pin)提供便(bian)利的分(fen)析(xi)利器。

   采用(yong) 3D 電(dian)子(zi)束(shu)技術（3D Beam Technology ）可(ke)獲得實時(shi)立體成(cheng)像。

   在(zai)樣(yang)品(pin)臺及裝(zhuang)置(zhi)的樣(yang)品(pin)運動過(guo)程中，Essence™ 3D防碰撞模(mo)塊可(ke)以(yi)直(zhi)觀的顯示安(an)裝(zhuang)腔(qiang)室(shi)內的探(tan)測(ce)器及樣(yang)品臺的位(wei)置(zhi)信息，提供安(an)全(quan)性(xing)的保(bao)護(hu)。

   真空緩沖節能(neng)單(dan)元(yuan)可顯著(zhu)縮(suo)短(duan)機械(xie)泵(beng)的運(yun)行(xing)時(shi)間，提(ti)供環保(bao)、高(gao)經濟效(xiao)益(yi)的電(dian)子(zi)顯微(wei)鏡(jing)。

   模塊化(hua)分析平臺，可選(xuan)配(pei)集(ji)成(cheng)多(duo)種(zhong)類(lei)的探(tan)測(ce)器和(he)附(fu)件(jian)（如陰(yin)極(ji)熒光探(tan)測(ce)器，水冷背散射電子(zi)探(tan)測(ce)器或拉(la)曼光(guang)譜儀等）。