產(chan)品(pin)質量控制關(guan)鍵(jian)：高(gao)低溫沖擊試(shi)驗箱(xiang)的(de)應用(yong)

許多(duo)電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)、汽車部(bu)件、航(hang)空(kong)航天設(she)備(bei)以(yi)及其(qi)它工業(ye)產(chan)品(pin)在其(qi)生命周期中都會(hui)經(jing)歷顯著(zhu)的(de)溫度(du)變化。這些溫度(du)變化可能(neng)來(lai)源(yuan)於外(wai)部(bu)環(huan)境，如日夜(ye)溫差(cha)、季節變化、氣(qi)候事件等(deng)，也可能(neng)來(lai)源(yuan)於產(chan)品(pin)自(zi)身(shen)的(de)工作(zuo)過(guo)程，如啟動(dong)、關(guan)閉(bi)、工作(zuo)模(mo)式切(qie)換(huan)等(deng)。某(mou)些材(cai)料(liao)在溫度(du)變化時(shi)可能(neng)產(chan)生膨(peng)脹或(huo)收(shou)縮(suo)，導(dao)致(zhi)部(bu)件之(zhi)間(jian)的(de)配合(he)失效(xiao)；電子(zi)元件在(zai)高(gao)溫下(xia)可能(neng)出(chu)現性(xing)能(neng)不(bu)穩定(ding)或(huo)失效(xiao)等問(wen)題。

為(wei)了(le)確保產(chan)品(pin)能(neng)夠應對溫度(du)變化帶(dai)來(lai)的(de)挑(tiao)戰，我們(men)需(xu)要在產(chan)品(pin)正(zheng)式投入使(shi)用(yong)前(qian)進行(xing)壹(yi)定(ding)的(de)測試(shi)評估(gu)。而高(gao)低溫沖擊試(shi)驗，就是壹種常(chang)見的(de)模(mo)擬產(chan)品(pin)在其(qi)使(shi)用(yong)壽命周期內(nei)可能(neng)遇(yu)到的(de)各(ge)種溫度(du)條(tiao)件的(de)測試(shi)方法。通過(guo)模(mo)擬產(chan)品(pin)在高(gao)溫和(he)低溫之(zhi)間(jian)的(de)快(kuai)速(su)切(qie)換，我(wo)們能(neng)夠揭示(shi)產(chan)品(pin)在高(gao)低溫狀(zhuang)態下的(de)潛(qian)在變(bian)化，進(jin)而評估(gu)其在(zai)溫度(du)沖擊下(xia)的(de)可靠性(xing)、耐(nai)久(jiu)性(xing)以(yi)及可能(neng)存在的(de)缺陷(xian)。

除了(le)上(shang)述(shu)提(ti)到的(de)電子(zi)、汽車、航(hang)天航(hang)空(kong)領域(yu)，高(gao)低溫沖擊試(shi)驗也是(shi)金(jin)屬、塑(su)料(liao)、橡膠、陶瓷、半(ban)導體等(deng)材(cai)料(liao)行(xing)業(ye)的(de)關鍵(jian)測試(shi)。

在(zai)進(jin)行(xing)高(gao)低溫沖擊試(shi)驗時(shi)，我們(men)通常(chang)采(cai)用(yong)專(zhuan)門的(de)試(shi)驗設(she)備——高(gao)低溫沖擊試(shi)驗箱(xiang)。這壹(yi)設備內(nei)部(bu)被劃(hua)分為(wei)高(gao)溫和(he)低溫兩(liang)個(ge)獨立區(qu)域，通過(guo)各(ge)自(zi)高(gao)效(xiao)的(de)加熱(re)系(xi)統(tong)和(he)制(zhi)冷系(xi)統(tong)，能(neng)夠迅速(su)營(ying)造(zao)出(chu)所需(xu)的(de)高(gao)溫或(huo)低溫環(huan)境(jing)。當(dang)兩(liang)個(ge)區域(yu)的(de)溫度(du)達到預設(she)值時(shi)，控制系(xi)統(tong)會(hui)迅速(su)啟(qi)動(dong)傳(chuan)送裝置(zhi)，將測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)從低溫區(qu)迅速(su)轉(zhuan)移(yi)至(zhi)高(gao)溫區(qu)，或(huo)反(fan)之(zhi)。這樣(yang)，樣(yang)品(pin)就在極短(duan)的(de)時間(jian)內(nei)經歷了從高(gao)溫到低溫或(huo)從低溫到高(gao)溫的(de)急劇(ju)變化，從而模(mo)擬了(le)實(shi)際使(shi)用(yong)中可能(neng)遇(yu)到的(de)溫度(du)沖擊條(tiao)件。

來(lai)自(zi)葡(pu)萄(tao)牙的(de)Aralab創立(li)於1985年，是歐洲(zhou)標(biao)準(zhun)環(huan)境(jing)控制設(she)備(bei)、藥(yao)物(wu)穩定(ding)測(ce)試(shi)設(she)備(bei)和特(te)殊測(ce)試(shi)設(she)備(bei)的(de)主要(yao)供應商(shang)之(zhi)壹。超(chao)過(guo)三(san)十載的(de)深入研(yan)發與(yu)匠心制(zhi)造(zao)，構築(zhu)了Aralab箱體設(she)備和(he)步入(ru)式(shi)房間(jian)的(de)優良品(pin)質和良好(hao)口(kou)碑(bei)。

「Aralab葡(pu)萄(tao)牙總部(bu)」

其(qi)中，Aralab FitoTerm 150 CTE2 正(zheng)是專(zhuan)為(wei)產(chan)品(pin)的(de)高(gao)低溫沖擊試(shi)驗而(er)研發(fa)制造(zao)的(de)壹款試(shi)驗箱(xiang)。

它采(cai)用(yong)上(shang)下雙箱設(she)計，上(shang)層為(wei)熱(re)試(shi)驗箱(xiang)，利用(yong)電加(jia)熱(re)器(qi)和(he)空(kong)氣(qi)循(xun)環技(ji)術，能(neng)夠迅速(su)達到並維持(chi)200℃的(de)均勻高(gao)溫；下(xia)層則是(shi)冷試(shi)驗箱(xiang)，借(jie)助±2 m/s的(de)動(dong)態通風系(xi)統(tong)，實(shi)現溫度(du)的(de)均勻化(hua)與(yu)壹致(zhi)性，溫度(du)範圍(wei)可低至(zhi)-75℃。

通過(guo)先進的(de)機電(dian)升(sheng)降(jiang)裝置(zhi)，Aralab FitoTerm 150 CTE2 能(neng)夠在高(gao)溫區(qu)和(he)低溫區(qu)之(zhi)間快(kuai)速(su)轉(zhuan)移(yi)測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)，轉(zhuan)移(yi)速(su)度(du)僅需(xu)少於5秒(miao)。此(ci)外(wai)，該設(she)備(bei)還配備了機械(xie)減(jian)速(su)系(xi)統(tong)，能(neng)有效(xiao)消除測(ce)試(shi)過(guo)程中的(de)振動(dong)，確保測(ce)試(shi)結(jie)果的(de)準(zhun)確性(xing)和(he)可靠性(xing)。